Materials Structure 
in Chemistry, Biology, Physics and Technology

 vol. 9, no. 2, 2002

Papers (extended abstracts) from the CSCA colloquium 2002

Zdroje rentgenového záření
(X-ray sources)

 

J. Brádler

 PDF

79

Rentgenová difrakční technika měření makroskopických zbytkových napětí
(X-ray diffraction measurement of residual stresses)

 

N. Ganev, I. Kraus

PDF

82

Small angle neutron scattering in materials science

 

P. Strunz

 PDF

83

Optická reflexe rentgenového a její použití při studiu struktury a teplotní stability vrstev
(Optical reflection of X-rays and its use for study of structure and thermal stability of thin films)

 

Z. Bochníček

PDF

85
Advanced X-ray Diffraction Imaging Techniques for Semiconductor Wafer Characterisation     P. Mikulík, T. Baumbach, D. Korytár, P. Pernot, D. Lübbert, L. Helfen,
Ch. Landesberger

 

 PDF

PDF
(1 Mb)

 87
Měření modulovaných krystalů
(Measurement of modulated crystals)		 M. Dušek, V. Petříček PDF 89

Other papers  

Hodnocení korosní odolnosti pomocí rtg difrakce
(Evaluating Corrosion Resistance by Means of X-ray Diffraction)

J. Fiala., S. Němeček, S. Lasek

 

PDF

PDF
 (3 Mb)

 

91

Reverzní procesy při rekrystalizaci
(Reverse processes at recrystallization)

J. Kasl, J. Fiala, P. Zuna

 

 

PDF
(1 Mb)

PDF
 (5 Mb)

 

94

Dvojí pohled -  malá úvaha k setkávání vědy a umění
(Two views – a small reflection on art and science meeting)

 

L. Dobiášová

 PDF


PDF
(1.8 Mb)

 

100

Krystalografická společnost     
(Czech and Slovak Crystallographic Association)
Regionální komitét českých a slovenských krystalografů
(Regional Committe of the Czech and Slovak Crystallographers)

 

R. Kužel, J. Hašek, Z Šourek
  		PDF

PDF

 101
Zprávy PDF 106