1. Zdroje záření Klasické zdroje, rotační anody, synchrotronové záření, zdroje neutronů

2. Monochromatizace Filtry, typy monochromátorů

3. Detekce záření Filmy, bodové, lineární, plošné detektory

4. Monokrystalové metody Filmové metody - Laue (orientace krystalu), Weissenberg, otáčený krystal, precese Difraktometry - Eulerova kolébka, kappa geometrie

5. Filmové práškové metody - Debye-Scherrerova metoda, Guinier

6. Informace obsažená v konvenčním práškovém difraktogramu. Stručný přehled základních metod práškové difrakce - upřesňování struktury z prášků, kvalitativní a kvantitativní fázová analýza, studium mřížových parametrů, teplotních kmitů, velikostí částic, mikronapětí.

7. Zpracování práškového difraktogramu. Určení parametrů profilů difrakčních linií přímou metodou a pomocí aproximace analytickými funkcemi.

8. Přehled základních geometrií v rtg. difraktometrii. Konvenční prášková metoda, goniometry psi, omega, Seemannův- Bohlinův goniometr, vliv instrumentálních faktorů a absorpce. Hloubka průniku rtg. záření.

9. Identifikace neznámé fáze

10. Kvalitativní a kvantitativní fázová analýza

11. Určování mřížových parametrů

12. Rietveldova metoda zpřesňování struktur

13. Měření zbytkových napětí Klasifikace napětí, popis napětí, metoda sin^2 psi, měření dvojosých napětí filmovými a difraktometrickými metodami

14. Textury. ODF, měření textury na texturním goniometru, vláknité textury a jejich charakterizace pomocí konvenčního práškového difraktometru, jednoduché metody popisu textur (psi a omega skeny)

15. Studium profilů difrakčních linií. Korekce na instrumentální rozšíření, separace efektů mikronapětí a malé velikosti částic aproximačními metodami.

16. Studium velikosti, tvaru a rozdělení velikostí krystalitů v oboru 5 nm - 10000 nm.

17. Studium struktury amorfních materiálů. Difrakce a EXAFS

18. Základní metody řešení krystalových struktur Pattersonovské metody, přímé metody

V. Valvoda, M. Polcarová, P. Lukáč : Základy strukturní analýzy. Karolinum. Praha. 1992.

I. Kraus : Úvod do strukturní rentgenografie. Academia. Praha 1985.

I. Kraus., V.V. Trofimov : Rentgenová tenzometrie. Academia. Praha 1988. Quantitative Texture Analysis. ed. H.J. Bunge, C. Esling. DGM. Oberursel. 1982.

Experimentální techniky v rentgenové a neutronové strukturní analýze. Krystalografická společnost. Praha 1994. ed. R. Kužel.

Difrakcia na polykryštalických látkach.R & D. Print. Bratislava. 1994. red. L. Smrčok.