269. ROZHOVORY
- Krystalografická společnost
Regionální komitét českých a slovenských krystalografů
- Inženýrská akademie České republiky
Fakulta jaderná a fyzikálně inženýrská ČVUT Praha
Západočeská univerzita
- Čas:
-
pondělí 29. 5. 2006, 9:30
- Místo:
- Fakulta jaderná a fyzikálně inženýrská ČVUT v Praze, Trojanova 13, 120 00
Praha 2, posluchárna 101
- Doprava:
- Metro B, Karlovo nám., tramvaj zastávka Na Moráni (Karlovo nám.), 10, 24,
3, 14, 18, 4
Plošné
pozičně citlivé detektory rentgenového záření
Program:
- 9.30 Zahájení
-
- 9.35
- J. Fiala, M.
Kolega (ZČU v Plzni)
- Comeback plošných pozičně citlivých detektorů
do práškové difrakce
- 10.05
- V. Kolařík, P. Kodjamanova, H. Fietzek,
M. Juez-Lorenzo (Fraunhofer Institut für Chemische Technologie, Pfinztal,
Německo)
- Real structure effects in FeCrAl alloys during initial oxidation
at high temperature
- 10.35
- M. Čerňanský (FzÚ AV ČR, Praha), M. Kolega, J Fiala
(ZČU v Plzni), P. Bezdička (ÚACH AV ČR, Řež u Prahy)
- Určování
velikosti částic ze statistických fluktuací azimutálního profilu
- 11.05
-
J. Pechmanová, P. Zuna (Ústav materiálového inženýrství FS ČVUT v
Praze)
- Rekrystalizace austenitických ocelí
- 11.35
- O. Vojtíšek, M. Tamáš (V. M. K., spol. s r. o., Praha)
-
Digitální zobrazování pomocí paměťových fólií – princip a základní
charakteristiky
- 12.05
-
Z. Porkert (Testima s. r. o., Praha)
-
Plošné detektory v nedestruktivní kontrole
- 12.35
- Přestávka na oběd
-
13.30
- J. Hybler (FzÚ AV ČR, Praha)
- Identifikace polytypů pomocí
dat z CCD detektoru
-
14.00
- N. Ganev (FJFI ČVUT v Praze)
- Paměťová fólie v laboratoři
rentgenové difrakce FJFI ČVUT v Praze
- 14.20
- Z. Pala (FJFI ČVUT v
Praze)
- Charakteristiky paměťové fólie používané v laboratoři rentgenové
difrakce FJFI ČVUT
- 14.40
- P. Sedlák (FJFI ČVUT v Praze)
-
Určování přesné orientace monokrystalů Laueho metodou pro rezonanční
ultrazvukovou spektroskopii
- 15.00
- D. Novotný (Pragolab)
-
Produkty nabízené firmou Pragolab. Nový práškový difraktometr.
- od 15.15
Možnost návštěvy laboratoře rentgenové difrakce Katedry
inženýrství pevných látek FJFI ČVUT v Praze.
Zájemci o ubytování (omezený počet) mohou kontaktovat Nikolaje Ganeva
ganev@troja.fjfi.cvut.cz
nejpozději do 17. 5. 2006.
Za organizátory: N. Ganev, J. Fiala