Program

STREDA 17. 9.

10 - 14
Registrácia
14 - 18
(predseda: N. Ganev)
  • Otvorenie
  • P. Mikula: Neutronové difrakčné pracoviště v Řeži u Prahy
  • J. Fiala: Zpracování měřených dat filtrací

ŠTVRTOK 18. 9.

9 - 12.00
(predseda : Q. Jackuliak)
  • M. Čepera: Textury - měření a zpracování experimentálních dat
  • D. Rafaja: Měření profilů zbytkového napětí v tenkých vrstvách
  • M. Jergel: Application of the Distorted-Wave Born Approximation to the X-ray Interface Studies
  • M. Černík: Deformačné textúry kovov s FCC mriežkou
14.00 - 18.00
(predseda : J. Fiala)
  • R. Kužel: Anizotropie parametrů difrakčních linií a reálná struktura
  • D. Krausová, R. Koďousek, V. Procházka: Krystalografické studium žlučových konkrementů
  • V. Jorík: Využitie práškových difrakčných metód pre štúdium zeolitov
  • M. Ďurík : Syntéza a charakterizácia komplexu Cu v štruktúre zeolitu Y
  • L. Smrčok: Štruktúry anorganických látok z práškových difrakčných dát
  • J. Černák, A. Orendáčová, M. Orendáč, J. Chomič, A. Feher: Synthetic design of one-dimensional compounds using tetracyanonickellate(2-) and dicyanoargentate(1-) anions.(O)

PIATOK 19. 9.

9.00 - 12.00
(predseda : R. Kužel)
  • V. Šepelák, A. Buchal: X-ray diffraction study of mechanically induced disordering in inverse spinel ferrites
  • A. Buchal: K záporné teplotní roztažnosti cihel DINAS
  • Q. Jackuliak: Porovnanie metód pre aproximáciu profilu difrakčnej čiary
  • P. Šutta: Skušenosti s používaním softvéru APX-63 firmy Seifert


Postre

Streda 18. 9.

16.00 - 18.00
  • F. Filuš, J. Fiala: Využití epitaxe při rtg difrakční identifikaci fázového složení
  • P. Skokanová: Krystalochemie produktů vysokoteplotní oxidace korozivzdorných slitin na bázi niklu
  • P. Skokanová, J. Fiala: Autodiagnostická procedura pro identifikaci fázového složení komplikovaných směsí
  • N. Ganev: Příspěvek k rentgenografické analýze účinku laserového zpevnění oceli


      M. Krupka: Výstavka firmy Philips