Program

STREDA 17. 9.

10 - 14
Registracia
14 - 18
(predseda: N. Ganev)
  • Otvorenie
  • P. Mikula: Neutronove difrakcne pracoviste v Rezi u Prahy
  • J. Fiala: Zpracovani merenych dat filtraci

STVRTOK 18. 9.

9 - 12.00
(predseda : Q. Jackuliak)
  • M. Cepera: Textury - mereni a zpracovani experimentalnich dat
  • D. Rafaja: Mereni profilu zbytkoveho napeti v tenkych vrstvach
  • M. Jergel: Application of the Distorted-Wave Born Approximation to the X-ray Interface Studies
  • M. Cernik: Deformacne textury kovov s FCC mriezkou
14.00 - 18.00
(predseda : J. Fiala)
  • R. Kuzel: Anizotropie parametru difrakcnich linii a realna struktura
  • D. Krausova, R. Kodousek, V. Prochazka: Krystalograficke studium zlucovych konkrementu
  • V. Jorik: Vyuzitie praskovych difrakcnych metod pre studium zeolitov
  • M. Durik : Synteza a charakterizacia komplexu Cu v strukture zeolitu Y
  • L. Smrcok: Struktury anorganickych latok z praskovych difrakcnych dat
  • J. Cernak, A. Orendacova, M. Orendac, J. Chomic, A. Feher: Synthetic design of one-dimensional compounds using tetracyanonickellate(2-) and dicyanoargentate(1-) anions.(O)

PIATOK 19. 9.

9.00 - 12.00
(predseda : R. Kuzel)
  • V. Sepelak, A. Buchal: X-ray diffraction study of mechanically induced disordering in inverse spinel ferrites
  • A. Buchal: K zaporne teplotni roztaznosti cihel DINAS
  • Q. Jackuliak: Porovnanie metod pre aproximaciu profilu difrakcnej ciary
  • P. Sutta: Skusenosti s pouzivanim softveru APX-63 firmy Seifert


Postre

Streda 18. 9.

16.00 - 18.00
  • F. Filus, J. Fiala: Vyuziti epitaxe pri rtg difrakcni identifikaci fazoveho slozeni
  • P. Skokanova: Krystalochemie produktu vysokoteplotni oxidace korozivzdornych slitin na bazi niklu
  • P. Skokanova, J. Fiala: Autodiagnosticka procedura pro identifikaci fazoveho slozeni komplikovanych smesi
  • N. Ganev: Prispevek k rentgenograficke analyze ucinku laseroveho zpevneni oceli


      M. Krupka: Vystavka firmy Philips