Počátek laboratoře RTG práškové difrakce na oddělení strukturní analýzy Fyzikálního ústavu AV ČR v.v.i. sahá do nedávné minulosti. Rekonstrukcí malé opuštěné místnosti bez oken a následnou instalací práškového difraktometru Empyrean od firmy PANalytical s měděnou rentgenkou v roce 2011 vznikla skromná laboratoř, jejímž hlavním posláním je řešení krystalových struktur z RTG práškových difrakčních dat. Zakoupený difraktometr je z toho důvodu vybaven fokusačním zrcadlem pro měření v transmisním uspořádání, tzv. uspořádání Debye-Scherrer, kde je vzorek umístěn buď mezi dvěma kaptonovými foliemi nebo v tenkostěnné kapiláře, viz. Fig. 1. Samozřejmostí je možnost osadit přístroj rovinným držákem (uspořádání Bragg-Brentano). Dále je přístroj možné osadit primárním Johanssonovým monochromátorem, který je vhodný pro měření rovinných vzorků. Později byla k přístroji dokoupena chladicí hlava od firmy Cryostream pro chlazení vzorků v kapiláře s teplotním rozsahem 90–500 K.
V roce 2015 byl zakoupen práškový difraktometr SmartLab od firmy Rigaku s 9kW Cu rotační anodou, viz. Fig 2. Přístroj byl pořízen v rámci projektu ASTRA a na pořizovacích nákladech se podílelo také oddělení spintroniky a nanoelektroniky. Difraktometr musí uspokojit rozdílné potřeby dvou oddělení, z čehož plyne jeho relativně bohaté vybavení zaměřené pro řešení krystalových struktur a pro analýzu tenkých vrstev. Přístroj je možné osadit primárním monochromátorem a kombinovat ho s CBO, CBO-E optikou a dvouodrazovým Ge(220) monochromátorem. Různými kombinacemi je možné produkovat divergenční, paralelní nebo fokusující svazek. Mezi držáky vzorku lze najít XY stoleček, φ-χ kolébku, držák na rovinný vzorek a držák na kapiláru. Pro detekci RTG záření je možné využít jeden ze tří detektorů – scintilační 0D, polovodičový 1D D/teX Ultra 250 a 2D pixel HyPix-3000 detektor. Dále byla k difraktometru pořízena vysokoteplotní komůrka Anton Paar HTK1200N s možností měření buď v kapiláře nebo na plochém vzorku.
Laboratoř postupně rozšiřovala své možnosti, takže z původní úzké specializace na měření difrakčních dat o vysokém rozlišení pro řešení krystalových struktur se stala laboratoř umožňující i měření tenkých vrstev, pólových obrazců, měření fázových přechodů a in-situ měření v reakční kapiláře.