Základním krokem při studiu materiálů metodami rentgenové, neutronové či elektronové difrakce je pečlivá a korektní analýza jednotlivých naměřených difrakčních maxim, získaných často ve formě jednodimenzionálních závislostí I(2θ). Pro mnohé aplikace, jako je například přesné určení mřížkových parametrů, stanovení koeficientů teplotní roztažnosti či měření zbytkových napětí, je pak analýza několika málo reflexí naprosto dostačující. V moderních komplexních programech je však tato snadná úloha pro nepřívětivost a přehnanou robustnost uživatelsky často v krátkém čase a při větším množství dat obtížně proveditelná. Nemalou roli rovněž mnohdy hraje nezanedbatelná cena licencí specializovaných programů.
Z těchto důvodů jsme vyvinuli vlastní vyhodnocovací program umožňující přesnou analýzu jednotlivých difrakčních profilů. Tento je vytvořen v prostředí MS Excel za užití maker v jazyce VBA. Je tedy spustitelný prakticky na jakémkoliv počítači vybaveném standardním balíčkem MS Office a díky svému uživatelsky přívětivému rozhraní je ihned připravený k analýze difrakčních dat.
V současné době umožňuje program načtení několika nejčastěji užívaných typů souborů s naměřenými difrakčními I(2θ) záznamy (.xrdml, .xy, .xye) a jejich rychlé fitování běžně užívanými analytickými funkcemi (Cauchy, Gauss, Pearson VII, pseudo-Voigt) na základě přednastavených či uživatelsky definovaných charakteristických spekter užitého záření. Samozřejmostí pak je přehledné grafické znázornění naměřených dat i fitu, fitování pozadí, fixování libovolných parametrů, vykreslení rozdílové křivky či výpočet krystalografických faktorů shody. Program umožňuje fitování až tří profilů najednou, tudíž je možné jej s výhodou použít k rozlišení překrývajících se reflexí a stanovení poměru jejich intenzit.
V případě zájmu o kopii programu k využití pro svůj výzkum může čtenář získat další informace na http://people.fjfi.cvut.cz/vertapet/ či kontaktovat autora.
Tato práce byla podpořena grantem Studentské grantové soutěže ČVUT č. SGS16/245/OHK4/3T/14.