Metoda „difrakce zpětně odražených elektronů“, letos osmaosmdesátiletá, ukázala se býti vzorovou ukázkou bonmotu stárnoucího Západu, že život začíná po padesátce. Celkem bizarní příklad úhlové závislosti odražených elektronů, považovaný ještě ve druhé polovině devadesátých let za rozmazanou sestru kanálovacích obrazců koopcí špionážní Houghovy transformace v roce 1992 a malého interakčního objemu elektronů s látkou zesílil v univerzální a neočekávaně robustní metodu, která se stala běžnou výbavou analytických SEM a standardem pro určování orientace mříže a věcí s tím souvisejících.
Prezentované aplikace metody EBSD ve studiu kovů s tvarovou pamětí budou – doufejme – rozšířením přehledových přednášek na dané téma. Vcelku komplikovaná 3D-EBSD je vázaná na kombinaci EBSD detektoru s fokusovaným iontovým svazkem. Poskytuje však komplexní informaci o distribuci zrn v materiálu. Použití bude prezentováno na nedávno publikovaných výsledcích ze superelastických NiTi drátů.
Podstatně obecnější je téma přípravy vzorků. Na slitině Co-Ni-Al jsme provedli studii vlivu použitých leštících substancí na kvalitu výsledných Kikuchiho obrazců, která sice nepřináší průlom do metalografické metodologie, ale ozřejmuje některé fráze z příruček o přípravě vzorků.