Na obrázku je uspořádání pro měření zbytkových napětí a textur. Za rtg lampou je tzv. polykapilára, která sestává z obrovského množství optických vláken a převádí divergentní (rozbíhavý) svazek z lampy na úzký itenzivní ve všech směrech poměrně dobře rovnoběžný svazek.

Kolébka umožňuje náklony a posuvy tak, že lze zkoumat jednak různé části vzorku a hlavně atomové roviny různě skloněné vůči povrchu. To slouží k detailní analýze napětí a textur (kompletní popis rozdělení orientací zrn).

Do dopadajícího i difraktovaného svazku lze umístit další nové optické elementy podle typu měření a požadovaného rozlišení. Lze analyzovat rošíření difrakčních linií,  měřit reflektivitu (totální odraz) na tenkých vrstvách a multivrstvách, difuzní rozptyl a tzv. mapy reciprokého prostoru. Taková měření umožňují určovat velikosti krystalitů, vnitřní napětí, defekty krystalové mříže, tloušťku velmi tenkých vrstev a jednotlivých vrstviček v multivrstvách, drsnost povrchu, povrchové struktury atd.

Cena takového kompletně vybaveného difraktometru včetně zdroje, chlazení a základního programového vybavení se pohybuje kolem 6 milionů Kč.