F388

Prakticka krystalografie

1/1 Z

V. Valvoda

1) Krystalografie
Rovinne a prostorove mrize, Millerovy indexy rovin, znaceni smeru, stereograficka projekce, volba zakladni bunky, transformace os, transformace smerovych a Millerovych indexu. Reciproke mrize, jejich rezy a zmeny orientace. Mezirovinne vzdalenosti, uhly mezi rovinami. Prvky symetrie, bodove grupy symetrie, prostorove grupy symetrie, symetricky ekvivalentni polohy, prace s mezinarodnimi krystalografickymi tabulkami. Zakladni typy struktur, polohy atomu v souvislosti se symetrii krystalu, databaze krystalovych struktur, prace s programem VIEW a CRYSTAL OFFICE (zobrazovani struktur).

2) Difrakce
Laueho difrakcni podminky, obecne difrakcni podminky, Bragguv zakon.
Vyuziti reciproke mrize pri interpretaci difrakcniho zaznamu.
Urceni orientace krystalu Laueho metodou.
Urceni mrizovych parametru metodou otaceneho krystalu.
Urceni mrizovych parametru difrakci na praskovem vzorku.
Pravidla vyhasinani reflexi a urceni symetrie struktury.
Simulace elektronove difrakce v ruznych rovinach a smerech v reciproke mrizi.
Identifikace latek a prace s databazi difrakcnich standardu PDF2.
Kvantitativni fazova analyza vice krystalickych latek ve vzorku.
Urceni stupne usporadani struktury na dlouhou vzdalenost.
Textura (prednostni orientace krytalitu) a jeji analyza pomoci difrakce.
Srovnani rentgenove, elektronove a neutronove difrakce.
Studium povrchu, tenkych vrstev a multivrstev (tloustka, drsnost rozhrani, hustota, velikost castic, napeti).
Studium epitaxnich vrstev.
Studium amorfnich latek a polymeru.