F436

1. Kinematická teorie difrakce rtg. záření reálnými krystaly (Krivoglazova teorie, difrakce záření ideálníma reálným krystalem, klasifikace poruch krystalové mříže z hlediska difrakce, možnosti jejich studia).

2. Informace obsažená v konvenčním práškovém difraktogramu (stručný přehled základních metod práškové difrakce - upřesňování struktury z prášků, kvalitativní a kvantitativní fázová analýza, studium mřížových parametrů, teplotních kmitů, velikostí částic, mikronapětí).

3. Zpracování práškového difraktogramu (určení parametrů profilů difrakčních linií přímou metodou a pomocí aproximace analytickými funkcemi).

4. Přehled základních geometrií v rtg. difraktometrii (konvenční prášková metoda, goniometry, Seemannův- Bohlinův goniometr, vliv instrumentálních faktorů a absorpce. Hloubka průniku rtg. záření).

5. Zbytková napětí (klasifikace napětí, popis napětí, metoda sin2(, měření dvojosých napětí filmovými a difraktometrickými metodami, měření napětí v tenkých vrstvách na Seemannově-Bohlinově goniometru, trojosá napětí).

6. Textury (obecný popis textury, pólové obrazce, ODF, měření textury na texturním goniometru, vláknité textury a jejich charakterizace pomocí konvenčního práškového difraktometru, textury v tenkých vrstvách, studium zbytkových napětí na texturovaných vzorcích).

7. Studium profilů difrakčních linií (korekce na instrumentální rozšíření, separace efektů mikronapětí a malé velikosti částic různými metodami).

8. Studium velikosti, tvaru a rozdělení velikostí krystalitů v oboru 5 nm - 100 (m.

9. Studium poruch krystalové mříže 2. druhu z rozšíření difrakčních linií (dislokace a dislokační struktury, vrstevné chyby).

10. Studium poruch 1. druhu z posunutí a zeslabení difrakčních linií (popis deformačního pole, změny mřížového parametru, statické Debyeovy- Wallerovy faktory).

11. Difúzní rozptyl (tepelný a strukturní difúzní rozptyl, geometrický a chemický nepořádek, Huangův rozptyl bodovými poruchami a jejich shluky).

12. Rozptyl na precipitátech a dislokačních smyčkách.

Literatura :

1. V. Valvoda, M. Polcarová, P. Lukáč : Základy strukturní analýzy. Karolinum. Praha. 1992.
2. I. Kraus : Úvod do strukturní rentgenografie. Academia. Praha 1985.
3. I. Kraus., V.V. Trofimov : Rentgenová tenzometrie. Academia. Praha 1988.
4. Quantitative Texture Analysis. ed. H.J. Bunge, C. Esling. DGM. Oberursel. 1982.
5. Experimentální techniky v rentgenové a neutronové strukturní analýze. Krystalografická společnost. Praha 1994. ed. R. Kužel.
6. Difrakcia na polykryštalických látkach.R & D. Print. Bratislava. 1994. red. L. Smrčok.