Indexovací postupy
Indexováním difraktogramu rozumíme přiřazení difrakčních indexů jednotlivým
difrakčním liniím. S vyjímkou kubické soustavy není pořadí indexů libovolné,
neboť nestejné délky krystalografických os a nestejné úhly mezi nimi vedou obecně k
různým mezirovinným vzdálenostem pro různá pořadí indexů (pořadí indexů
souvisí s úseky vyťatými na osách a, b a c).
Nutno si též uvědomit, že u práškové metody zastupují zvolené difrakční indexy
celý soubor ekvivalentních rovin. Například u kubické soustavy difrakční indexy 200
značí druhý řád difrakce od rovin s Millerovými indexy (100),
(010), (001), (-100), (0-10), (00-1). Některé linie odpovídají difrakcím i na
neekvivalentních rovinách, které se přesně překrývají v důsledku stejné
mezirovinné vzdálenosti. U kubické soustavy jsou to např. 221 a 300, neboť v
obou případech je h2 + k2 + l2
= 9.
Výskyt nebo naopak nepřítomnost difrakcí určitého typu souvisí se symetrií
krystalů a tohoto difrakčního jevu se tedy dá využít při strukturní analýze.
Příklady pro kubickou soustavu |
||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
Difrakce všech typů se mohou vyskytovat pouze u krystalů s
primitivní mříží (a). Prostorovým (b) nebo plošným (c) centrováním určité typy
difrakcí vymizí. Při indexování difrakčního záznamu látky kubické soustavy
vycházíme ze vztahu kde a je jediný měřený mřížový parametr, délka hrany
jednotkové buňky, a h, k, l jsou difrakční indexy.
Posloupnost hodnot (1/dhkl)2 je úměrná součtu kvadrátů
difrakčních indexů, přičemž koeficient úměrnosti je roven 1/a2. Toho
můžeme využít jak k indexování difrakcí, tak k přibližnému stanovení
mřížového parametru, ovšem za předpokladu, že známe strukturní typ zkoumané
látky, tj. systém vyhasínání reflexí. Předpokládejme například, že
zkoumaná látka patří k jednomu ze strukturních typů na obr. vpravo. Abychom současně určili i strukturní
typ, postupujme následujícím způsobem. Pomocí změřených hodnot mezirovinných vzdáleností
vypočteme hodnoty kde index 1 značí první difrakci záznamu (s nejnižším θ) a index i označuje i-tou difrakci. Tyto poměry nezávisí na velikosti mřížového parametru, pouze na dovolených hodnotách h, k a l pro každý strukturní typ.
Porovnáním s tabelovanými posloupnostmi hodnot Qi můžeme ihned rozhodnout o které z těchto strukturních typů se jedná. Pro indexování difrakčních linií pak použijeme vyhasínací pravidla pro danou mříž či strukturní typ a sestavíme posloupnost difrakčních indexů s rostoucím součtem jejich kvadrátů a indexujeme postupně od první linie. Přibližné hodnoty mřížového parametru, vypočtené z poloh jednotlivých difrakcí, pak určíme z výše uvedeného vztahu. |
![]() Kubická prostá (s.c.) |
![]() Kubická plošně centrovaná (f.c.c.) |
||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
![]() |
||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
![]() Kubická prostorově centrovaná (b. c. c.) |
![]() Diamantová |
|||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
![]() |
![]() |
|||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
|