Dalsi pomerne rozsahlou a do soucasnosti presahujici tematickou oblasti nasi aktivity byly tenke polykrystalicke vrstvy. Za hlavni prinos zde pokladame zjisteni vlivu pikostruktury (tj. odchylek od objemove struktury velikosti nekolika pikometru) na vlastnosti tenkych vrstev a zjisteni existence smerove zavisle mikrostruktury v tenkych vrstvach. Pri studiu jemne struktury polykrystalickych latek, kde jsou kladeny znacne naroky na presnost mereni intenzit reflexi, jsme narazili na problem textury. I kdyz nejsme specialisty v tomto oboru, byli jsme vlastne donuceni najit vhodne a presne korekcni postupy a textura se stala nasim osudem az do soucasnych dnu, kdy se zamerujeme na studium silne texturovanych vzorku a na urceni jejich struktury metodou Joint Texture Refinement. Z metodicke oblasti jmenujme jeste studium difrakcnich profilu pro charakterizaci realne struktury.
Dalsi oblasti nasi cinnosti je studium struktury interkalatu, cermetu, supravodicu a difuznich procesu. Jak je jiste znamo, v techto pripadech neni vedle zakladniho vyzkumu zanedbatelna ani aplikacni role techto materialu a procesu. Ze softwarovych produktu nasi laboratore je mozne z minulosti jmenovat program PROFIT (jedna z prvnich verzi simulace a analyzy difrakcnich zaznamu z praskovych vzorku), jeho podstatne kvalitnejsi a uzivatelsky pohodlnejsi verzi DIFPATAN, program VIEW pro graficke znazorneni atomovych struktur a pro vyuku krystalografie, program ANCOR pro uhlovou korekci na Seemannove-Bohlinove difraktometru pro tenke vrstvy a upravy programu POWLS a Rietveldova programu DBWS9006 pro analyzu texturovanych vzorku a pro mereni v asymetrickem usporadani (napr. Guinierove nebo Seemannove-Bohlinove usporadani) nebo pri naklonenych vzorcich (naklon chi).
V. Valvoda
